產品(pin)用(yong)途：最新開發的(de)(de)(de) CRM-3觸(chu)(chu)點(dian)(dian)接(jie)觸(chu)(chu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)，采用(yong)繼電(dian)(dian)器測試(shi)(shi)標準的(de)(de)(de) 6VDC恒壓(ya)源(yuan)，測試(shi)(shi)電(dian)(dian)流分為 1mA，10mA，100mA，1A，精度(du)達到 1μA，完(wan)全滿足觸(chu)(chu)點(dian)(dian)接(jie)觸(chu)(chu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)這(zhe)樣的(de)(de)(de)動(dong)態微(wei)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)測試(shi)(shi)；并通過設(she)計專(zhuan)用(yong)的(de)(de)(de)測試(shi)(shi)工裝(zhuang)，能(neng)模擬(ni)觸(chu)(chu)點(dian)(dian)接(jie)觸(chu)(chu)形式，從(cong)而獲取觸(chu)(chu)點(dian)(dian)接(jie)觸(chu)(chu)時的(de)(de)(de)接(jie)觸(chu)(chu)壓(ya)力等(deng)參數條件。 由于接(jie)觸(chu)(chu)壓(ya)力、 測試(shi)(shi)電(dian)(dian)流的(de)(de)(de)影響(xiang)對(dui)觸(chu)(chu)點(dian)(dian)間接(jie)觸(chu)(chu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)這(zhe)種(zhong)動(dong)態電(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)影響(xiang)是非常(chang)巨大的(de)(de)(de)， 所(suo)以市面上的(de)(de)(de)通用(yong)測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)器是無(wu)法勝任測試(shi)(shi)觸(chu)(chu)點(dian)(dian)接(jie)觸(chu)(chu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)的(de)(de)(de)任務的(de)(de)(de)。CRM-3觸(chu)(chu)點(dian)(dian)接(jie)觸(chu)(chu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)專(zhuan)用(yong)測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)(yi)器針(zhen)對(dui)以上特性做了專(zhuan)門設(she)計。

最新開發的 CRM-3觸(chu)(chu)(chu)點(dian)(dian)接觸(chu)(chu)(chu)電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)儀，采用(yong)繼電(dian)器測(ce)試(shi)標準的 6VDC恒壓(ya)源，測(ce)試(shi)電(dian)流分為 1mA，10mA，100mA，1A，精度達到 1μA，完全滿足(zu)觸(chu)(chu)(chu)點(dian)(dian)接觸(chu)(chu)(chu)電(dian)阻(zu)這樣的動態微電(dian)阻(zu)測(ce)試(shi)；并通過設計專用(yong)的測(ce)試(shi)工裝，能(neng)模擬(ni)觸(chu)(chu)(chu)點(dian)(dian)接觸(chu)(chu)(chu)形式(shi)，從而獲取觸(chu)(chu)(chu)點(dian)(dian)接觸(chu)(chu)(chu)時的接觸(chu)(chu)(chu)壓(ya)力等(deng)參數條件。

由于接(jie)觸壓力、 測(ce)(ce)試(shi)電(dian)(dian)流的(de)(de)影響對(dui)觸點間(jian)接(jie)觸電(dian)(dian)阻這種動態(tai)電(dian)(dian)阻的(de)(de)影響是(shi)非常巨(ju)大的(de)(de)， 所以(yi)(yi)市面上(shang)的(de)(de)通用測(ce)(ce)試(shi)儀器(qi)(qi)是(shi)無(wu)法(fa)勝(sheng)任(ren)測(ce)(ce)試(shi)觸點接(jie)觸電(dian)(dian)阻的(de)(de)任(ren)務的(de)(de)。CRM-3觸點接(jie)觸電(dian)(dian)阻測(ce)(ce)試(shi)儀專用測(ce)(ce)試(shi)儀器(qi)(qi)針對(dui)以(yi)(yi)上(shang)特(te)性做(zuo)了專門設計(ji)。

四線式測試(shi)（四線測試(shi)/開(kai)爾文測試(shi)）原(yuan)理

如下圖(tu)所(suo)示(shi)，四線(xian)(xian)測(ce)(ce)量(liang)是(shi)將恒流(liu)(liu)源電(dian)流(liu)(liu)引(yin)入(ru)被(bei)測(ce)(ce)電(dian)阻(zu)(zu)(zu) Rx的(de)(de)(de)(de)兩(liang)根(gen)(gen)電(dian)流(liu)(liu)線(xian)(xian) L1、L2和電(dian)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)量(liang)端(duan)(duan)的(de)(de)(de)(de)兩(liang)根(gen)(gen)電(dian)壓(ya)(ya)線(xian)(xian) L3、L4分(fen)開，使得電(dian)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)量(liang)端(duan)(duan)的(de)(de)(de)(de)電(dian)壓(ya)(ya)不再是(shi)恒流(liu)(liu)源兩(liang)端(duan)(duan)的(de)(de)(de)(de)直接電(dian)壓(ya)(ya)，四線(xian)(xian)測(ce)(ce)量(liang)法(fa)比通(tong)(tong)常(chang)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)法(fa)多(duo)了兩(liang)根(gen)(gen)饋(kui)(kui)線(xian)(xian)，分(fen)開了電(dian)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)量(liang)端(duan)(duan)與(yu)(yu)恒流(liu)(liu)源兩(liang)端(duan)(duan)連線(xian)(xian)。由于(yu)電(dian)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)量(liang)端(duan)(duan)與(yu)(yu)恒流(liu)(liu)源端(duan)(duan)斷開，恒流(liu)(liu)源與(yu)(yu)被(bei)測(ce)(ce)電(dian)阻(zu)(zu)(zu) RX、饋(kui)(kui)線(xian)(xian)L1和 L2構成一(yi)個回路。送至電(dian)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)量(liang)端(duan)(duan)的(de)(de)(de)(de)電(dian)壓(ya)(ya)只有(you)被(bei)測(ce)(ce)電(dian)阻(zu)(zu)(zu) RX兩(liang)端(duan)(duan)的(de)(de)(de)(de)電(dian)壓(ya)(ya)，饋(kui)(kui)線(xian)(xian)電(dian)阻(zu)(zu)(zu) RL1和RL2沒有(you)送至電(dian)壓(ya)(ya)測(ce)(ce)量(liang)端(duan)(duan)，因此饋(kui)(kui)線(xian)(xian)電(dian)阻(zu)(zu)(zu) RL1、RL2對(dui)測(ce)(ce)量(liang)結果沒有(you)影(ying)響(xiang)。饋(kui)(kui)線(xian)(xian)電(dian)阻(zu)(zu)(zu) RL3和RL4對(dui)測(ce)(ce)量(liang)有(you)影(ying)響(xiang)，但影(ying)響(xiang)很小(xiao)，由于(yu)測(ce)(ce)試回路中的(de)(de)(de)(de)輸入(ru)阻(zu)(zu)(zu)抗(kang)（M?級）遠大(da)于(yu)饋(kui)(kui)線(xian)(xian)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)（?級），所(suo)以，四線(xian)(xian)測(ce)(ce)量(liang)法(fa)對(dui)于(yu)測(ce)(ce)量(liang)小(xiao)電(dian)阻(zu)(zu)(zu)的(de)(de)(de)(de)準確(que)度很高(gao)，這是(shi)對(dui)導通(tong)(tong)性(xing)能測(ce)(ce)試的(de)(de)(de)(de)最(zui)精確(que)方法(fa)

通常電(dian)(dian)阻測(ce)試(shi)儀器是用(yong)大電(dian)(dian)流測(ce)試(shi)小電(dian)(dian)阻， 小電(dian)(dian)流測(ce)試(shi)大電(dian)(dian)阻。 由(you)于方式的不同， 觸(chu)點間(jian)接觸(chu)電(dian)(dian)阻的測(ce)量完全和通用(yong)性儀器能(neng)提供的測(ce)量不同，必(bi)須采用(yong)小電(dian)(dian)流測(ce)小電(dian)(dian)阻，大電(dian)(dian)流測(ce)大電(dian)(dian)阻。

CRM-3觸(chu)(chu)點(dian)接觸(chu)(chu)電(dian)阻測試(shi)(shi)儀依照上述(shu)原理，采用(yong)恒壓源，提供(gong)最低 1mA的(de)高(gao)精度恒流(liu)源。并采用(yong)最新(xin)低噪聲 24bit采樣(yang)(yang)芯片 AD7190，采樣(yang)(yang)精度最高(gao)可達 8.5nV，溫度漂移 5nV/℃，能完全有效滿足觸(chu)(chu)點(dian)間(jian)接觸(chu)(chu)電(dian)阻這樣(yang)(yang)需(xu)求的(de)小測試(shi)(shi)電(dian)流(liu)、 毫歐(ou)級動態(tai)電(dian)阻的(de)檢測。 測試(shi)(shi)線采用(yong)低阻抗專用(yong)測試(shi)(shi)線，有效保障測量精度。

  由于對觸點(dian)間接觸電阻(zu)的影響因素(su)還包括接觸力(li)(li)， 本測(ce)(ce)試夾具具有專門開發的高(gao)精度測(ce)(ce)力(li)(li)計，傳感器 500gf± 0.1gf。測(ce)(ce)力(li)(li)計采用 24Bit高(gao)精度測(ce)(ce)力(li)(li)傳感器 HX711，具備通(tong)信功能(neng)，為自動測(ce)(ce)試提供了可能(neng)。

獨(du)立設計的(de)測(ce)試夾(jia)具能對(dui)所夾(jia)持的(de)被測(ce)觸點做(zuo) Y-Z兩軸(zhou)位移(yi)(yi)，測(ce)試探針可(ke)做(zuo) X-Y兩軸(zhou)位移(yi)(yi)，全系統可(ke)做(zuo) X-Y-Z三軸(zhou)全向位移(yi)(yi)，能完全避免測(ce)量中重力的(de)影響，可(ke)方便校正測(ce)量點，使用戶能對(dui)觸點表(biao)面各位置進(jin)行(xing)測(ce)量。

測(ce)試夾具大部分采用聚四氟(fu)乙烯材料(liao)制造， 該(gai)材料(liao)絕緣性(xing)好可避免(mian)測(ce)量(liang)中其(qi)它(ta)導體電阻的(de)干擾，且耐磨性(xing)好，位移量(liang)控制精(jing)確度高。

手動(dong)測試(shi)夾具工(gong)作狀(zhuang)態描(miao)述

  如下圖所示，全系(xi)統(tong)可做 X-Y-Z三(san)軸全向位移，測(ce)(ce)試時，先用(yong)測(ce)(ce)試電極夾持觸(chu)點釘腳，如是(shi)平面型的觸(chu)點，則放(fang)置于電極夾上(shang)。

旋(xuan)轉(zhuan)測力(li)(li)計(ji) X軸(zhou)位(wei)移旋(xuan)鈕(niu)和(he)測力(li)(li)計(ji) Y軸(zhou)旋(xuan)鈕(niu)，并調整(zheng)電極夾 Z軸(zhou)旋(xuan)鈕(niu)，將測試(shi)針接近(jin)觸點表(biao)面待測部位(wei)。

旋轉(zhuan)電極夾 Y軸旋鈕，將被測(ce)觸點(dian)（片）緩慢升起，接觸測(ce)試針(zhen)，至測(ce)力(li)計顯示值達到要求接觸力(li)時，停止旋動旋鈕，此時觸點(dian)被定位，不(bu)會自動降(jiang)下。

CRM-3觸點接觸電阻測試儀特點

1、AD芯片更(geng)高級，由 14Bit提升至 24Bit，測試(shi)精度大幅提高 ；

2、恒(heng)(heng)壓(ya)恒(heng)(heng)流源改用更(geng)新更(geng)穩定的設計(ji)，提供精度更(geng)好(hao)、穩定性(xing)更(geng)好(hao)的測試(shi)電流，并增加提供 1mA的恒(heng)(heng)流源 ；

3、顯示(shi)界面(mian)由 LED數碼管改為 LCD液晶(jing)屏，顯示(shi)更(geng)直觀，信息量更(geng)豐富(fu) ；

4、顯(xian)示量程 0.01m? — 999.99m? ；

5、操作界(jie)面使用數(shu)字鍵(jian)盤形式(shi)， 可(ke)設置參數(shu)大量(liang)增加， 鍵(jian)盤使用微動開關， 壽命可(ke)靠 ；

6、增加信(xin)號輸(shu)入輸(shu)出端口(kou)，便于實(shi)施自(zi)動化(hua)測量 ；

7、增加通信模塊，方(fang)便計算機統計 ；

8、采用分(fen)體(ti)式設(she)計，測(ce)(ce)試(shi)儀器與(yu)測(ce)(ce)試(shi)模塊(kuai)(kuai)分(fen)離，提高了測(ce)(ce)量(liang)儀器的使用效率，并(bing)可根據(ju)需求使用不同的測(ce)(ce)試(shi)模塊(kuai)(kuai)，兼容性大(da)大(da)增強 ；

9、測(ce)力機構改為(wei)數(shu)字式設計，AD芯片同樣為(wei) 24Bit，可提(ti)供信(xin)號(hao)輸入輸出接口，增加(jia)伺服系(xi)統后，配合測(ce)試儀可做自動化(hua)檢(jian)測(ce) ；

10、新設計(ji)的(de)三軸位移機(ji)構更(geng)可靠，全絕(jue)緣(yuan)且使用壽命(ming)更(geng)高；

11、測(ce)試(shi)電(dian)極設(she)計更合理，避(bi)免觸(chu)點落入導致損(sun)壞或無法使(shi)用，鍍金(jin)層更厚，測(ce)試(shi)更可靠(kao) 。

CRM-3觸(chu)點接觸(chu)電阻測試儀技(ji)術參數

電(dian)源：220VAC，功率20W

外形(xing)尺寸：285×120×230mm

量程范圍：1A測(ce)試(shi)檔：0～1000mΩ（分辯率0.01mΩ）

100mA測試檔(dang)：0～200mΩ（分辯(bian)率0.01mΩ）

10mA測(ce)試(shi)檔：0～20mΩ（分辯(bian)率0.01mΩ）

測試電流：1A、100mA、10mA可(ke)選

觸(chu)點測(ce)試(shi)壓(ya)力：0～300gf（可調(diao)）