型號:HVS-1000B
產品(pin)用(yong)途:適用(yong)于測定微小、薄形、表(biao)面滲鍍層試件的維氏硬(ying)度(du)和測定玻璃、陶(tao)瓷、瑪瑙、人(ren)造寶(bao)石等較脆而又硬(ying)材(cai)料(liao)的努普硬(ying)度(du)。
符(fu)合(he)標準:符(fu)合(he)EN-ISO6507、ASTME384&E92和JIS標準、GB/T4340
市場價(jia):16800元
規格:自動轉塔
HVS-1000B數顯顯微(wei)維(wei)氏(shi)硬(ying)度計(ji)介紹
HVS-1000B采用(yong)精密的(de)(de)結構設計,配備高清晰光學測(ce)量系統,主要用(yong)于測(ce)量微小試件(jian)、金屬涂層(ceng)及(ji)鍍(du)層(ceng)的(de)(de)硬度,廣(guang)泛應用(yong)于計量、冶金、建材、院校等行(xing)業的(de)(de)檢測(ce)、生(sheng)產(chan)與科研。
數(shu)顯(xian)維氏(shi)硬度計(ji)大液晶(jing)屏(ping)顯(xian)示含內置打(da)印機(ji),各種(zhong)硬度參數(shu)自(zi)動換算。是光(guang)、機(ji)、電一體化(hua)的(de)高新技(ji)術(shu)產品。該儀器(qi)造型新穎(ying)、美觀、是普及型顯(xian)微(wei)硬度超高頻的(de)升(sheng)級換代產品。采(cai)用計(ji)算機(ji)軟(ruan)件(jian)編程,高倍率(lv)光(guang)學測(ce)量(liang)(liang)系統,自(zi)動轉塔,光(guang)電傳(chuan)感等技(ji)術(shu)。通過(guo)軟(ruan)件(jian)鍵(jian)輸入,能(neng)調(diao)節(jie)測(ce)量(liang)(liang)光(guang)源強(qiang)弱,預置試驗(yan)力(li)保持時間(jian)、維氏(shi)和努氏(shi)試驗(yan)方法切換。在軟(ruan)鍵(jian)面板上的(de)LCD顯(xian)示屏(ping)能(neng)顯(xian)示試驗(yan)方式、試驗(yan)力(li)、壓痕測(ce)量(liang)(liang)長度、硬度值、試驗(yan)力(li)保持時間(jian)、測(ce)量(liang)(liang)次(ci)數(shu)并能(neng)鍵(jian)入年(nian)、月、日,試驗(yan)結果(guo)可通過(guo)打(da)印機(ji)輸出(chu)。
顯微(wei)硬度計還可根據(ju)用(yong)戶特(te)殊要求配制(zhi)CCD圖(tu)像(xiang)攝影裝置,配制(zhi)后能對所測壓痕和(he)材料金相組織進(jin)行拍攝。適用(yong)于測定微(wei)小、薄形試(shi)件(jian)、表面(mian)滲鍍層等試(shi)件(jian)的顯微(wei)硬度和(he)測定玻璃、陶(tao)瓷、瑪瑙、寶石等脆性材料的顯微(wei)硬度,
適用范圍
◆滲碳層(ceng)和淬火層(ceng)硬(ying)化深(shen)度
◆熱處理效果檢驗
◆鋼鐵、有色金屬、集成(cheng)電路(lu)晶片
◆焊接或沉積硬度
◆薄(bo)形塑(su)料、金(jin)屬(shu)箔片、鍍層(ceng)(ceng)、涂層(ceng)(ceng)、硬化層(ceng)(ceng)、層(ceng)(ceng)狀金(jin)屬(shu)
◆樣品測試(shi)和質量控制
HVS-1000B數(shu)顯(xian)顯(xian)微維氏硬度(du)計(ji)技術參(can)數(shu)
硬度標尺 | 維氏和(he)努氏 |
試驗力 | (gf) 10 25 50 100 200 300 500 1000 |
硬度范圍 | 5-3000HV |
試(shi)驗力選擇 | 手動 |
試驗力控制 | 自動( 加載/保持(chi)/ 卸載) |
符合標準 | 符合EN-ISO6507、ASTME384&E92和(he)JIS標準、GB/T4340 |
保荷時間(jian) | 1-99秒(1秒增量) |
轉塔方式 | 自動轉塔 |
目鏡放(fang)大(da)倍數(shu) | 10X |
物鏡 | 10X、40X |
總放大倍(bei)數 | 100X(觀察),400X(測(ce)量(liang)) |
編碼器測(ce)量范圍 | 200μm |
光(guang)通道 | 可雙向切換:目鏡/CCD 攝像裝置 |
濾光鏡 | 綠(lv)色 藍色(se) |
光(guang)源 | 可調(diao)鹵素(su)燈(deng) |
顯示 | 硬(ying)度值、對角線長度、試驗力、保持時間(jian)、測試次數 |
試件最(zui)大高度(du) | 90mm |
中心線處深度 | 120mm |
XY試(shi)臺尺寸(cun) | 100mm×100mm |
XY試臺(tai)移動距離 | 25mm×25mm |
XY試臺最小位(wei)移(yi)數 | 0.01mm |
語(yu)言 | 中文 英(ying)文 |
電(dian)源 | AC220V/3A 50-60Hz |
儀器體積(ji) | 433x228x523mm(長×寬×高mm) |
凈 重(zhong) | 40kg |
HVS-1000B數顯顯微維氏硬度(du)計標準配置:
名 稱 | 數 量 | 名(ming) 稱(cheng) | 數 量 |
附件箱(xiang) | 1 | 標準硬度塊 HV0.2、HV1 | 各1 |
10×測微目鏡(jing) | 1 | 電源線 | 1 |
濾色片 | 2 | 保險絲 | 1 |
X,Y試臺 | 1 | 十字螺絲刀(dao) | 1 |
平口試臺 | 1 | 壓頭 | 1 |
應用說明(ming):
測(ce)定(ding)金屬,合金表面層(ceng)各種滲層(ceng),硬化(hua)層(ceng)及金屬內部組(zu)(zu)織結構的顯微硬度,測(ce)定(ding)用(yong)其它方法所不能(neng)及的小件、薄片、脆硬件以及相夾雜鍍層(ceng)的硬度,并可觀察金相組(zu)(zu)織結構。
薄型塑料、金屬(shu)箔片、鍍層、涂層、硬化層、層狀(zhuang)金屬(shu)、焊接(jie)或沉積硬度、集成電路晶片。